Sección de Análisis de Imagen (SAIMAGEN)
SEMINARIO DE MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA CON SISTEMA DE TOMOGRAFÍA
- Categoría: Investigación de tejido biológico a alta resolución utilizando la tecnología FE-SEM y CrossBeam
- Organiza: Sección de Análisis de Imagen
- Lugar: Aula del edificio SACE
- Días: 24 de Septiembre 2013
- Duración: 10 de la mañana
Más información: Cartel del seminario
SEMINARIO DE MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA CON SISTEMA DE TOMOGRAFÍA
- Categoría: 3View by GATAN : Serial Block Face Scanning Electron Microscopy, an automated high throughput three dimensional imaging technique at EM resolutions
- Organiza: Sección de Análisis de Imagen
- Lugar: Aula del edificio SACE
- Días: 18 de Septiembre 2013
- Duración: 10 de la mañana
Más información: Cartel del seminario
SEMINARIO DE MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE TRANSMISIÓN: EVOLUCIÓN, APLICACIONES AVANZADAS, IMAGEN TRIDIMIENSIONAL (FEI)
- Categoría: Microscopía Electrónica de Transmisión: Evolución, Aplicaciones Avanzadas, Imagen Tridimensional
- Organiza: Sección de Análisis de Imagen
- Lugar: Aula del edificio SACE
- Días: 17 de Abril de 2013
- Duración: 10-12 de la mañana
SEMINARIO DE MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE TRANSMISIÓN 200KV CON SISTEMA DE TOMOGRAFÍA (Jeol)
- Categoría: Presentación equipo de microscopía electrónica de transmisión 200kv con sistema de tomografía
- Organiza: Sección de Análisis de Imagen
- Lugar: Aula del edificio SACE
- Días: 21 de Marzo de 2013
- Duración: 10-12 de la mañana
Más información: Cartel del seminario Resumen Tomografía
